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Equipamentos

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  • Microscópio Eletrônico de Varredura com Filamento de Tungstênio.

    MEV Modelo INSPECT (FEI Company)

Recursos disponíveis: Imagens em Elétrons Secundários, Elétrons Retroespalhados e EDS. Aumento: Até 50.000x, Modo: Alto e Baixo Vácuo.

INSPECT w

Para a realização destas análises será necessário preencher o formulário para agendamento no MEV. 

 

  • Microscópio Eletrônico de Varredura de alta resolução com emissão de elétrons por um canhão de emissão de campo (FEG - Field Emission Gun).

    MEV-FEG Modelo QUANTA FEG 450 (FEI Company)

Recursos disponíveis: Imagens em Elétrons Secundários, Elétrons Retroespalhados, EDS, WDS e EBSD.

Aumento: Até 500.000x, Modo: Alto Vácuo, Baixo Vácuo e Modo Ambiental.

 

QUANTA FEG w

  Para a realização destas análises será necessário preencher o formulário para agendamento no MEV-FEG.

 

  • Espectroscopia Fotoeletrônica por Raios X (XPS).

    Modelo PHOIBOS-150 (SPECS)

Recursos disponíveis: Análise de superfícies operando em UHV (Ultra alto vácuo), usando um espectrômetro eletrônico equipado com um analisador hemisférico PHOIBOS 150, um canhão de Raios X (XR-50) de duplo anodo (Mg /Al-1,2-1,4 KeV). Possui ainda um canhão de íons IQE 12/38 que permite limpar as amostras e fazer análises com perfil de profundidade. Este equipamento permite identificar e quantificar quaisquer elementos químicos em uma superfície (Exceto H2 e He) de espessura nanométrica (até 10nm), além de interações eletrônicas entre estes. Os arquivos gerados são transformados na extensão *.vms. O tratamento e a interpretação dos dados gerados serão por conta do demandante. O detalhamento para agendamento de análise deve ser feito mediante a interação entre o responsável pela técnica de XPS e o usuário.

Célula para tratamento de superfícies (High Pressure Cell - HPC): O espectrômetro disponível no INT possui também uma câmara de tratamento que pode operar em condições de temperatura e pressão (desidratação [He], oxidação [O2/He] e redução [H2/He]). Está em fase de implantação.

XPS w

Para a realização destas análises será necessário preencher o formulário de protocolo para recebimento de amostras de XPS. Clique aqui para realizar o download do formulário. 

 

  • Microscópio Eletrônico de Transmissão de alta resolução com emissão de elétrons por um canhão de emissão de campo (FEG - Field Emission Gun).

    MET Modelo TECNAI G20 200kV (FEI Company)

 Recursos disponíveis: opera em modo transmissão de 80 a 200 kV, o que possibilita análises de nanoestruturas em alta resolução (valores nominais: resolução ponto a ponto <0,25 nm e resolução linha a linha <0,10 nm). Possui modo de imagem de varredura por transmissão (STEM) com detector anular de alto ângulo (HAADF).

Aumento: Até 820.000x (atualmente) e 1.000.000x (nominal).

Recursos a serem operacionalizados: STEM em alta resolução e módulo de tomografia para reconstruções 3D, tanto para TEM como para STEM.

 

TECNAI copy

Para a realização destas análises será necessário preencher o formulário para agendamento no MET.

 

  • Microscópio Eletrônico de Varredura com Feixe de Íons Focalizado.

    FIB Modelo HÉLIOS Nanolab DualBeam G3 CX (FEI Company)

Recursos disponíveis: este microscópio é uma ferramenta poderosa para pesquisas avançadas em escala ‘nano’, através da utilização combinada de análise de íons e elétrons.

Para pesquisas em nanotecnologia, o Helios NanoLab DualBeam permite que os usuários criem novas possibilidades em pesquisa na área de materiais.

Este microscópio é capaz de produzir amostras ultrafinas de prototipagem precisa para análise tanto por MEV quanto por MET, além de realizar análises de elementos por EDS.

 

FIB

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Para a realização destas análises será necessário preencher o formulário para agendamento no FIB.

 

  • Microscópio de Varredura Confocal & Microscópio Eletrônico de Varredura Ambiental

    CONFOCAL Modelo LSM 710 (ZEISS)

Recursos disponíveis: realização do escaneamento de amostras ponto a ponto ou de pontos múltiplos de uma só vez. As informações dos pixels são utilizadas para a montagem das imagens, que podem ser adquiridas nos eixos x, y e z, possibilitando a visualização das estruturas de tecidos ou células em três dimensões.

AUMENTO: Até 100x.

Recursos a serem adicionados: correlação de imagens com o Microscópio Eletrônico de Varredura Ambiental.

 

          MEV Modelo EVO 10 (ZEISS)

Recursos disponíveis: realização do escaneamento em voltagens de 0,2 a 30 kV. Por possuir configuração do modo ambiental, é possível a aquisição de imagens de amostras úmidas, em seu estado natural, não sendo necessário a etapa de metalização - indispensável em um microscópio de varredura.

Aumentos: Até 1.000.000x.

Recursos a serem operacionalizados: correlação de imagens com o Microscópio de Varredura Confocal.

 

ZEISS MEV

Para a realização destas análises será necessário preencher os formulários para agendamento no MEV ou CONFOCAL.

 

ALÉM DESSES EQUIPAMENTOS DE ANÁLISE, O CENANO CONTA COM OS EQUIPAMENTOS PARA A PREPARAÇÃO DE AMOSTRAS.


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